FEI掃描電鏡Prisma E SEM是一款高度靈活的掃描電子顯微鏡（SEM），在各種條件下都能有出色的全能性能。

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更新日期：2023-03-20

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Quattro SEM環境掃描電子顯微鏡為具有環境真空功能的靈活、多功能高分辨率掃描電鏡，可以將成像和分析全面性能與環境模式（ESEM）相結合，使得樣品研究得以在自然狀態下進行。

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Quattro SEM為具有*環境真空功能的靈活、多功能高分辨率掃描電鏡，可以將成像和分析全面性能與環境模式（ESEM）相結合，使得樣品研究得以在自然狀態下進行。

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Quattro場發射掃描電鏡的場發射電子槍（FEG）確保了優異的分辨率，通過不同的探測器選項，可以調節不同襯度信息，包括定向背散射、STEM和陰極熒光信息。

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Prisma E SEM掃描電鏡是一款高度靈活的掃描電子顯微鏡（SEM），在各種條件下都能有出色的全能性能。基于其低真空和環境掃描的SEM （ESEM）模式，它*具備分析不導電，含氣體、水分或其它非常規測試的樣品。

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OTS一鍵夾雜物分析系統是一套集掃描電子顯微鏡、大面積高速能譜探測器、夾雜物自動分析軟件以及樣品潔凈度評 價及建議為一體的綜合性分析系統。該系統不僅具有完備的電子光學成像系統，能對鋼中非金屬夾雜物的微觀形貌進行清晰觀察，而且配有 業界領x的大面積高速X射線能譜儀，自動對試樣選定區域內所有鋼中非金屬夾雜物的化學成分進行快速準確分析。

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